International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFTS) — международная научная конференция в области Engineering. Организатор: IEEE. Материалы конференции индексируются в базе Scopus.
Издание 2026 года проходит в г. Rome, Италия. Срок подачи статей истёк (2026-05-01).